Semestrálna práca: Elektrónová mikroskopia a röntgenová difrakčná analýza
Skryť detaily | Obľúbený- Kvalita:53,4 %
- Typ:Semestrálna práca
- Kategória:Technika
- Podkategória:Elektrotechnika
- Autor:martin1a1
- Rozsah A4:5 strán
- Zobrazené:1 525 x
- Stiahnuté:6 x
- Veľkosť:0,1 MB
- Formát a prípona:MS Office Word (.docx)
- Jazyk:slovenský
- ID projektu:22289
- Posledna úprava:12.04.2009
Všeobecná charakteristika:
Mikroskopy slúžia na pozorovanie štruktúry materiálov pri veľkých zväčšeniach. Vo svetelnom mikroskope sa na tvorbu obrazu používa svetelný lúč, ktorý z fyzikálneho hľadiska tvorí elektromagnetické vlnenie s vlnovou dĺžkou približne od 400 nm do 750 nm. V objektíve a okulári svetelného mikroskopu sú uložené sklenené šošovky, ktoré slúžia na zväčšovanie obrazu pozorovaného objektu. Svetelný lúč sa bez problémov pohybuje prostredím, ktorým je vzduch.
Mikroskopy slúžia na pozorovanie štruktúry materiálov pri veľkých zväčšeniach. Vo svetelnom mikroskope sa na tvorbu obrazu používa svetelný lúč, ktorý z fyzikálneho hľadiska tvorí elektromagnetické vlnenie s vlnovou dĺžkou približne od 400 nm do 750 nm. V objektíve a okulári svetelného mikroskopu sú uložené sklenené šošovky, ktoré slúžia na zväčšovanie obrazu pozorovaného objektu. Svetelný lúč sa bez problémov pohybuje prostredím, ktorým je vzduch.