Priamou metódou sme merali kapacity dvoch doskových kondenzátorov rôznych rozmerov. Pomerne veľké rozdiely medzi výpočtami a nameranými hodnotami kapacít kondenzátorov mohli vzniknúť nerovnomernou vzdialenosťou medzi doskami kondenzátora. V druhej časti sme merali kapacitu kondenzátorov po vložení dielektrických materiálov medzi dosky kondenzátorov priamo na doskách. Po vypočítaní plôch dielektrických materiálov sme vypočítali permitivitu neznámych materiálov.