Meranie: Meranie parametrov na cievkach a kondenzátoroch II. (protokol 6)
Skryť detaily | Obľúbený- Kvalita:82,0 %
- Typ:Meranie
- Univerzita:Žilinská univerzita v Žiline
- Fakulta:Elektrotechnická fakulta
- Kategória:Technika
- Podkategória:Elektrotechnika
- Predmet:Meranie a meracie systémy
- Študijný program:Elektrotechnika
- Autor:unizak
- Ročník:2. ročník
- Rozsah A4:5 strán
- Zobrazené:1 294 x
- Stiahnuté:1 x
- Veľkosť:0,2 MB
- Formát a prípona:MS Office Word (.docx)
- Jazyk:slovenský
- ID projektu:44647
- Posledna úprava:05.03.2014
Práca vypracovaná podľa požiadaviek cvičiaceho predemtu Meranie a meracie systémy na tému Meranie parametrov na cievkach a kondenzátoroch II. (protokol 6).
Odovzdanie tejto práce je pre denného študenta povinné.
Úlohy merania:
1. Zmerajte pasívne parametre danej cievky rezonančnou metódou na princípe Q- metra. Graficky zostrojte závislosť činiteľa akosti Q a odporu cievky R1 od veľkosti nastavovanej frekvencii.
2. Pomocou číslicového Q- metra (RLC merača) skontrolujte výsledky zmeraných parametrov pri frekvencii 100 a 1 kHz
Odovzdanie tejto práce je pre denného študenta povinné.
Úlohy merania:
1. Zmerajte pasívne parametre danej cievky rezonančnou metódou na princípe Q- metra. Graficky zostrojte závislosť činiteľa akosti Q a odporu cievky R1 od veľkosti nastavovanej frekvencii.
2. Pomocou číslicového Q- metra (RLC merača) skontrolujte výsledky zmeraných parametrov pri frekvencii 100 a 1 kHz